Search

Search Constraints

Start Over You searched for: Subject tenká vrstva Remove constraint Subject: tenká vrstva

Search Results

1. Measurement of thin layer AlF3 parameters from reflectance spectrum

2. Model mechanického napětí v systému multivrstev

3. Určení tloušťky tenké vrstvy z měření spektrální odrazivosti pomocí nové varianty obálkové metody

4. Vliv použitého modelu odrazivosti na určení velikosti tloušťky tenké vrstvy

5. Vlnočtová a energetická interpretace elektronové vodivosti tenké vrstvy s využitím Fermiho charakteristických veličin