This contribution deals with precise surface topography measurement of functional glass and metallic components. The topography of selected samples was analyzed with interferometric method especially dual-wavelength phase-shifting interferometry. This method excels with its wide field of application achieving high measurement speed, wide field of view and high precision. and Tento příspěvek se zabývá přesným měřením topografie povrchu funkčních skleněných a kovových komponent. Topografie vybraného vzorku byla analyzována metodou dvouvlnné interferometrie, speciálně metodou dvouvlnné interferometrie s řízenou změnou fáze. Metoda měření vyniká aplikačním využitím s vysokou rychlostí měření, širokým zorným polem a vysokou přesností.