Plan-parallel optical elements are broadly used as a final component and also as semi-finished product. But the interferometric measurement of its optical properties is very difficult due to interference between the front and rear plan surfaces which cause undesirable fringes often called ''dead fringes''. Because of this fact, multi-step measurement with low coherence source have to be done or immersion fluid for suppressing of unwanted reflections have to be use. This kind of measurement is very laborious and place high demands on the operator. By multiple-wavelength interferometry using tunable laser source, the separation of information about the shape of surfaces or transmission from each other is possible. And also is a possible, evaluation of dead fringes and calculation inner refractive index distribution. All these can be done in only one step measurement with a high coherence laser source and without any immersion fluid. Therefore the measurement is less sensitive to human errors and last but not least very fast. and Planparalelní optické elementy jsou široce užívány a planparalelní disky optického skla jsou také často základem pro následnou výrobu. Interferometrické měření jejich optických vlastností je však velmi obtížné, a to právě díky paralelitě rovinných povrchů, mezi nimiž dochází v kolimovaném koherentním svazku k nežádoucí interferenci znemožňující standardní měření dalších vlastností elementu. Měření je tak nutné provádět vícekrokově pomocí zdrojů s nízkou koherencí, či eliminovat nežádoucí interferenci pomocí imerzní kapaliny. Tyto metody jsou však velmi pracné a kladou vysoké požadavky na operátora. Pomocí multivlnné interferometrie, kdy je lineárně laděna frekvence laserového zdroje, je možné oddělit požadovanou informaci od interference nežádoucí, a tím získat tvarové a transmisní vlastnosti elementu a případně také vnitřní rozložení indexu lomu během jediného měření a bez použití imerzní kapaliny. Výsledné měření je tak v podstatě necitlivé na lidské chyby a především je výrazně rychlejší.
This contribution deals with precise surface topography measurement of functional glass and metallic components. The topography of selected samples was analyzed with interferometric method especially dual-wavelength phase-shifting interferometry. This method excels with its wide field of application achieving high measurement speed, wide field of view and high precision. and Tento příspěvek se zabývá přesným měřením topografie povrchu funkčních skleněných a kovových komponent. Topografie vybraného vzorku byla analyzována metodou dvouvlnné interferometrie, speciálně metodou dvouvlnné interferometrie s řízenou změnou fáze. Metoda měření vyniká aplikačním využitím s vysokou rychlostí měření, širokým zorným polem a vysokou přesností.