This contribution deals with lab-on-chip technology, which emerged during past years between imaging methods. Diffractive field according to Lorenz-Mie-Debye theory is created by light irradiating the sample positioned near digital sensor. The diffracted wave interferes with the incident wave and creates a digital hologram from which the amplitude and phase fields are subsequently reconstructed. Main advantages of this technology are the simplicity and compactness of the system with low weight and dimension. These properties allow big reduction in price compared to the methods which use optical elements and also the possibility for creating a device useable not only in specialized laboratories but even outside. Furthermore this method achieves submicron resolution in wide field of view. and Tento příspěvek se zabývá technologií lab-on-chip, jež v posledních letech vstupuje na pole zobrazovacích metod. Vzorek umístěný blízko digitálního senzoru, na který dopadá světelná vlna, vytváří difrakční pole podle teorie Lorenz-Mie-Debye. Difraktovaná vlna interferuje s dopadající vlnou a vytváří digitální hologram, z kterého je následně zrekonstruováno amplitudové i fázové pole. Hlavními výhodami lab-on-chip jsou jednoduchost a kompaktnost systému s nízkou hmotností a rozměrem. Tyto vlastnosti umožňují velké snížení ceny v porovnání s metodami využívajícími optické elementy a možnost tvorby skladného zařízení použitelného i mimo specializované laboratoře. Metoda dále dosahuje submikronového laterálního rozlišení v širokém zorném poli.
This contribution deals with precise surface topography measurement of functional glass and metallic components. The topography of selected samples was analyzed with interferometric method especially dual-wavelength phase-shifting interferometry. This method excels with its wide field of application achieving high measurement speed, wide field of view and high precision. and Tento příspěvek se zabývá přesným měřením topografie povrchu funkčních skleněných a kovových komponent. Topografie vybraného vzorku byla analyzována metodou dvouvlnné interferometrie, speciálně metodou dvouvlnné interferometrie s řízenou změnou fáze. Metoda měření vyniká aplikačním využitím s vysokou rychlostí měření, širokým zorným polem a vysokou přesností.