Search

Start Over Creator Michal, Stanislav

5. Korekce Ti-safírového disku za použití metody MRF

Creator:
Michal, Stanislav and Provazníková, Pavlína
Format:
bez média and svazek
Type:
model:article and TEXT
Subject:
Ti-sapphire, polishing, transmitted wawefront error, QED MRF, interferometer, surface shape, surface roughness, titan-safír, deformace prošlé vlnoplochy (transmitted wavefront error - TWE), interferometr, tvar povrchu, and drsnost povrchu
Language:
Czech
Description:
Titanium-doped sapphire is a widely used transition-metal-doped gain medium for tunable lasers and femtosecond solid-state lasers. It was introduced in 1986, and thereafter Ti:sapphire lasers quickly replaced most dye lasers, which had previously dominated the fields of ultrashort pulse generation and widely wavelength-tunable lasers. These crystals are commonly grown by Czochralski method. Of the essence of this method there is often present a center artifact. That means striae, which negatively influence transmitted wavefront error of an optical element. In our case this was a disc with diameter 50 mm. With the aim to maximize TWE the disc was plan-polished from both sides (input and output surface). After measuring of TWE the disc was corrected via MRF by polishing one surface using QED Q22-Y machine. This local correction method uses deliberately removing of material to decrease influence of inhomogenity inside of disc material. Effectiveness of this method was confirmed after few correction steps which improved TWE more than three times. and Titanem dopovaný safír je široce rozšířené aktivní médium pro přeladitelné a femtosekundové pevnolátkové lasery. Byl poprvé představen v roce 1986 a poté Ti-safírové lasery rychle nahradily většinu barvivových laserů. Ty do té doby dominovaly na poli laserů s ultrakrátkými pulzy a na poli laserů s přeladitelnou vlnovou délkou. Krystaly Ti-safíru jsou nejčastěji pěstovány metodou Czochralského. Z její podstaty je v materiálu velmi často přítomen středový artefakt - strie negativně ovlivňující deformaci průchozí vlnoplochy (TWE) optickým elementem. V našem případě se jednalo o disk průměru 50 mm. V úmyslu zlepšit TWE disku co nejvíce, byl disk rovinně leštěn z obou stran (vstupní a výstupní plocha). Po měření TWE byl disk korigován metodou MRF pomocí leštění jedné plochy za použití zařízení QED Q22y. Tato metoda spočívá v lokálním odstraňování materiálu, které vede k potlačení vlivu nehomogenity uvnitř materiálu. Efektivita této metody byla potvrzena několika korekčními kroky, jež zlepšily TWE disku více než trojnásobně.
Rights:
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/ and policy:public

6. Metodika měření tvaru asférických povrchů jakožto součást optické výroby

Creator:
Procháska, František, Michal, Stanislav, Melich, Radek, and Psota, Pavel
Format:
bez média and svazek
Type:
model:article and TEXT
Subject:
aspheric surface measurement and měření asférického povrchu
Language:
Czech
Description:
The aim of the present article is to provide clear and user valuable information about aspheric surfaces measurements suitable for use in optical manufacture. In view of this a theoretical analysis of the surface shape criteria defining possibilities in accordance with ISO 10110 was compiled. Also the aspheric surfaces measurement operating procedures (measurement methodology) for aspherical stitching interferometer and 3D non-contact profilometer were compiled too with regard to the process key steps discussion. These procedures were then tested by the real aspherical surfaces samples measuring and the standard deviations of the results were determined., Cílem předkládaného článku je přinést přehledné a uživatelsky cenné informace o způsobech měření asférických povrchů vhodných pro použití v optické výrobě. S ohledem na to byl proveden teoretický rozbor možností definování tvarových kritérií v souladu s normou ISO 10110 a dále byly sestaveny operační postupy - metodiky měření, popisující klíčové úkony při měření tvarů asférických povrchů pomocí asférického stitchovacího interferometru a 3D bezkontaktního profilometru. Tyto postupy pak byly testovány měřením reálných vzorků asférických ploch, kdy byly stanoveny standardní směrodatné odchylky získaných výsledků., and Stanislav Michal ml.
Rights:
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/ and policy:public

8. Swinging arm profilometr jako nástroj pro měření tvaru rozsáhlých optických ploch

Creator:
Michal, Stanislav
Format:
bez média and svazek
Type:
model:article and TEXT
Subject:
interferometer, swinging arm profilometer, Lupho Smart, Faro laser tracker, stitching, Arduino, surface shape, interferometr, swinging arm profilometr, and tvar povrchu
Language:
Czech
Description:
The swinging arm profilometer (SAP) represents one of the few options for accurate measurement of large optical surfaces. Measured data are important information needed to refine the production process. The article describes the SAP measuring device and its principle. It also mentions device modifications and new procedures that simplified SAP alignment and positively influenced measurement accuracy. and Swinging arm profilometr představuje jednu z mála možností přesného měření rozsáhlých optických ploch. Data získaná měřením jsou důležitou informací nutnou ke zpřesnění výrobního procesu. V článku je popsáno měřicí zařízení SAP a jeho princip. Rovněž jsou zde zmíněny úpravy zařízení a nové postupy, které zjednodušily justáž SAPu a pozitivně ovlivnily přesnost měření.
Rights:
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/ and policy:public