This article describes the data processing obtained by the AFM using the programming language and software Matlab. The basic examples are scripts for two-dimensional and three-dimensional surface structure, histogram of heights and S parameters. However, these examples can be applied to other SPM methods. The benefits of such usage over the original software from microscope are almost unlimited possibilities of processing with the data obtained. and Článek popisuje zpracování dat pořízených metodou AFM za využití programovacího jazyka a nástroje Matlab. Jako základní příklady jsou uvedeny kódy pro dvoj a trojrozměrné zobrazení struktury povrchu, histogramu výšek a S parametrů. Uvedené příklady však lze aplikovat i na jiné SPM metody. Výhodou takového zpracování oproti softwaru dodaného k mikroskopu pak je naprostá volnost práce se získanými daty.
This article deals with the utilizing of Scanning Near-field Optical Microscopy (SNOM) for the detection of spectrum for Strongly Localized Photoluminescent Centres (SLFC). These centres may be a vacancies in mono-layer of hexagonal Boron Nitride (h-BN). Therefore, the h-BN sample on quartz substrate was prepared. On this substrate, the h-BN layer is formed to the flakes with a core in the centre. We observed that these cores are radiated as SLFC for the white illumination. In addition, we measured the optical absorption spectra corresponding to the topography of the flake., Tento článek se zabývá využitím rastrovací optické mikroskopie v blízkém poli (SNOM) k detekci spekter silně lokalizovaných fotoluminiscenčních center (SLFC). Těmito centry mohou být vakance v monovrstvě hexagonálního nitridu boritého (h-BN). Proto byl připraven vzorek h-BN na substrátu křemenného skla. Na tomto substrátu tvoří h-BN vločky s jádrem uprostřed. Bylo objeveno, že pro bílý zdroj osvětlení se tato jádra chovají jako SLFC. Navíc byla naměřena optická absorpční spektra korespondující s topografií vloček., and Poděkování. Autoři děkují Milosi Tothovi, University of Technology Sydney, za poskytnutí vzorků. Práce byla podpořena MŠMT projektem LQ1601 (CEITEC 2020) Národní program udržitelnosti.
Optical properties of periodic structures and one-dimensional nanowires have been studied by Scanning Near-Field Optical Microscopy (SNOM). The optical waveguide connected to the tuning fork detector was used for the illumination of the sample or the collection of electromagnetic field close to surface of optically active structures. This contribution presents the ability of new instrument - scanning near-field optical microscope - and the recent results on studied nanostructures. and Optické vlastnosti periodických struktur a stříbrných nanovláken byly studovány pomocí rastrovací mikroskopie blízkého pole. Iluminace zkoumaného vzorku nebo detekce elektromagnetického pole v blízkosti povrchových, opticky aktivních struktur byla provedena pomocí optického vlákna připevněného na kmitající ladičku. Následující příspěvek prezentuje nově používané zařízení, rastrovací mikroskop blízkého pole a dosavadní výsledky získané při studiu nanostruktur.
Optical properties of periodic structures and one-dimensional nanowires have been studied by Scanning Near-Field Optical Microscopy (SNOM). The optical waveguide connected to the tuning fork detector was used for the illumination of the sample or the collection of electromagnetic field close to surface of optically active structures. This contribution presents the ability of new instrument - scanning near-field optical microscope - and the recent results on studied nanostructures. and Optické vlastnosti periodických struktur a stříbrných nanovláken byly studovány pomocí rastrovací mikroskopie blízkého pole. Iluminace zkoumaného vzorku nebo detekce elektromagnetického pole v blízkosti povrchových, opticky aktivních struktur byla provedena pomocí optického vlákna připevněného na kmitající ladičku. Následující příspěvek prezentuje nově používané zařízení, rastrovací mikroskop blízkého pole a dosavadní výsledky získané při studiu nanostruktur.