The purpose of this article is to summarize current knowledge of the measurement and interpretation of infrared spectra at the Spectrometric and Laser Laboratory, Meopta - optika, s.r.o., and outline a simple and easily constructed adjustment of the FTIR spectrometer for the quantitative measurement of spectral parameters of solids. There are concisely commented transmission and reflection spectra of plane-parallel plate of material with high refractive index in the MWIR and LWIR regions as well as theoretical basis used for calculating and comparing conventionally true values of the spectral properties of these spectra. The conclusion summarizes the current situation in the measurement of spectral properties of infrared lenses and objectives. and Cílem tohoto příspěvku je shrnout dosavadní poznatky o měření a interpretaci infračervených spekter ve Spektrometrické a laserové laboratoři společnosti Meopta - optika, s.r.o. a nastínit možnou jednoduchou a konstrukčně nenáročnou úpravu FTIR spektrometrů pro kvantitativní měření spektrálních parametrů pevných látek. V příspěvku jsou stručně komentována jak výsledná transmitační (resp. reflektanční) spektra testovacích planparalelních sklíček z materiálů o vysokém indexu lomu ve spektrálních oblastech MWIR a LWIR, tak i teoretická východiska použitá pro výpočet a srovnání konvenčně pravých hodnot daných spektrálních vlastností s těmito spektry. Závěr příspěvku sumarizuje současnou situaci v oblasti měření spektrálních vlastností volných infračervených čoček a objektivů.
An important and necessary role of the Spectrometric and laser laboratory Meopta - optika, s.r.o. is the ability to flexibly and effectively respond to the increasing demands for quality and accuracy of the measurement. Usually, this is done in a limited period of time when it is necessary to design a solution, which takes into account not only the result of the measurement, but also the principles of 3E (ie. economy, efficiency and effectiveness). This article discusses one of the partial solutions of the requirements of optical production introduced in the Spectrometric and laser laboratory of Meopta - optika, s.r.o., namely the method of optical measurement of spectral parameters of non-plane-parallel optical components in the short and mid-infrared region. and Důležitou a nezbytnou součást povinností spektrometrické a laserové laboratoře společnosti Meopta - optika, s.r.o. tvoří schopnost pružné a efektivní reakce na neustále se zvyšující požadavky na kvalitu a přesnost měření. Zpravidla se tak děje v omezeném časovém úseku, kdy je potřeba navrhnout a uvést do provozu takové řešení daného požadavku, které zohledňuje nejen samotný výsledek měření, ale také principy 3E (tj. hospodárnost, efektivnost a účelnost). Tento článek pojednává o jednom z dílčích řešení požadavků optické výroby řešených spektrometrickou a laserovou laboratoří společnosti Meopta - optika, s.r.o., a to metodě optického měření spektrálních parametrů neplaparalelních optických komponent v krátké a střední infračervené oblasti.
The term optical ''constant'' is used to describe any of the quantities (and often functional dependencies) that characterize the optical behavior of the substance. Knowledge of optical constants is a prerequisite for computing the optical properties of a given substance and describing the propagation of electromagnetic radiation by the fabric medium. Although there are advanced methods for characterizing optical properties of substances such as optical microscopy or spectroscopic ellipsometry, many of them can be derived without the need to compile complex numerical models based on the basic optics and spectral analyzes. and Pod pojmem optická ''konstanta'' rozumíme v běžném použití jakoukoli z veličin a funkčních závislostí charakterizujících optické vlastnosti látky. Znalost optických konstant je hlavním předpokladem k vypočtu spektrálních charakteristik dané látky a popisu šíření elektromagnetického záření látkovým prostředím. Ačkoli v dnešní době existují pokročilé metody charakterizace optických látek, jako například optická mikroskopie či spektroskopická elipsometrie, lze spoustu z nich odvodit bez nutnosti sestavování složitých numerických modelů pouze ze základních zákonitostí optiky a spektrální analýzy.