Srovnání metod SEM a SPM pro charakterizaci solárních článků

Title:

Srovnání metod SEM a SPM pro charakterizaci solárních článků
Comparison of SEM and SPM techniques for solar cells characterization

Creator:

Sobola, Dinara, Papež, Nikola, Škarvada, Pavel, and Tománek, Pavel

Identifier:

https://cdk.lib.cas.cz/client/handle/uuid:52b8e177-666b-4506-b1ba-97dea68a4bf2
uuid:52b8e177-666b-4506-b1ba-97dea68a4bf2

Subject:

scanning probe microscopy, scanning electron microscopy, solar cell, topography, rastrovací sondová mikroskopie, rastrovací elektronová mikroskopie, solární článek, and topografie

Type:

model:article and TEXT

Format:

bez média and svazek

Description:

This study concerns the comparison of possibilities of SPM and SEM techniques for characterization of solar cells. Advanced characterization of optoelectronic devices demands several microscopic techniques based on different physical principles with nano- and micro-meter resolution in order to localize nanosize features of device structure. SPM and SEM illustrate surface texturization at micro- and nano-scale, and thus are powerful instruments of nanotechnology. and Zvyšování kvality a účinnosti nových měřicích metod přispívá k pokročilé charakterizaci optoelektronických součástek a zařízení. Tyto metody využívají pro přesnější zkoumání vlastností struktur několik mikroskopických technik, které jsou založeny na fyzikálních principech ovlivněných nano a mikrorozměry zařízení. Tato studie porovnává možnosti SPM a SEM metod pro charakterizaci solárních článků. Metody SPM a SEM znázorňují povrchovou strukturu v mikro a nanoměřítku, a tudíž jsou silným nástrojem nanotechnologie.

Language:

Czech

Rights:

http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/
policy:public

Coverage:

81-83

Source:

Jemná mechanika a optika: věda - výzkum - technologie - realizace : technický oborový časopis = Fine mechanics and optics | 2017 Volume:62 | Number:3

Harvested from:

CDK

Metadata only:

false