Nanostruktura přirozeného a vodivou vrstvou pokrytého povrchu epoxidové pryskyřice s SiO2 nanočásticemi v podmínkách klasického REM a EREM

Title:

Nanostruktura přirozeného a vodivou vrstvou pokrytého povrchu epoxidové pryskyřice s SiO2 nanočásticemi v podmínkách klasického REM a EREM
Nano-structure of natural and conductive layer coated surface of epoxy resin with SiO2 nanoparticles in terms of classical SEM and ESEM

Creator:

Hudec, Jiří, Neděla, Vilém, and Tihlaříková, Eva

Identifier:

https://cdk.lib.cas.cz/client/handle/uuid:2269fde5-1183-4d35-a865-ff02ad15ac10
uuid:2269fde5-1183-4d35-a865-ff02ad15ac10

Subject:

epoxyresin, nanoparticles, conductive layer, morphological artifacts, ESEM, REM, EREM, epoxidová pryskyřice, nanočástice, vodivá vrstva, and morfologické artefakty

Type:

model:article and TEXT

Format:

bez média and svazek

Description:

The paper presents the current possibilities of the environmental electron microscopy laboratory at the ISI CAS in Brno in imaging epoxy resin surface nanostructures with nanoparticles. The results show morphological artifacts emerging due to sample coating or its evaporation caused by the thermal effects of the electron beam, and further provide a comparison between samples observed under the conditions approaching vacuum and samples observed under a relatively high gas pressure in the environmental scanning electron microscope. Samples are displayed in a completely natural state in a relatively high gas pressure and, given the environmental conditions, at a very high resolution in a modified ESEM QUANTA 650 FEG. and Článek prezentuje současné možnosti laboratoře environmentální elektronové mikroskopie ÚPT AVČR v Brně při zobrazování povrchových nanostruktur epoxidové pryskyřice s nanočásticemi. Výsledky poukazují na morfologické artefakty vznikající pokovením vzorku či jeho odpařováním vlivem tepelných účinků elektronového svazku a dále přinášejí možnost porovnání zobrazení vzorků v podmínkách blížících se vakuu a při relativně vysokém tlaku plynů environmentálního rastrovacího elektronového mikroskopu. Vzorky jsou v podmínkách relativně vysokého tlaku plynů zobrazovány ve zcela přirozeném stavu a vzhledem k tomu s velmi vysokým rozlišením pomocí upraveného EREM QUANTA 650 FEG.

Language:

Czech

Rights:

http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/
policy:public

Coverage:

75-77

Source:

Jemná mechanika a optika: věda - výzkum - technologie - realizace : technický oborový časopis = Fine mechanics and optics | 2017 Volume:62 | Number:3

Harvested from:

CDK

Metadata only:

false