In the paper we discuss material selectivity of magneto-optic ellipsometry to components of magnetic nanostructures. Magneto-optical angles (Kerr rotation and ellipticity) have different sensitivity to particular components of nanostructures. A method for separation of their magneto-optic signals using a linear combination of measured hysteresis loops is proposed. The method is supported using the model based on calculation of electromagnetic wave reflection from the nanosystems and experimentaly demonstrated on the structures of: (i) periodic multilayers consisting of NiFe and Co ultrathin films; (ii) magnetically hard nanoparticles in surface layer of amorphous FeNbB ribbons; and (iii) selforganized multiferroincs on basis of Bi- and Co-ferrite. and V článku je diskutována materiálová citlivost magnetooptických elipsometrických metod na dílčí složky magnetických nanostruktur. Magnetooptické úhly (Kerrova rotace a elipticita) vykazují odlišnou citlivost k jednotlivým komponentám nanostruktur. Je navržena metoda separace jejich magnetooptických signálů pomocí lineární kombinace měřených magnetizačních smyček. Princip separace je ověřen modelem založeným na výpočtu odrazu elektromagnetických vln od nanosystémů a experimentálně demonstrován na: (i) periodických multivrstvách obsahujících NiFe a Co ultratenké vrstvy; (ii) magneticky tvrdších nanočásticích v povrchové vrstvě amorfních pásků FeNbB; a (iii) samoorganizovaných multiferoikách na bázi Bi- a Co-feritů.