This article deals with quantitative determination of the error following the ellipsometric data obtained from a curved surface including the influence of non-collimated beams. Numerical model, based on the combination of geometrical and wave optics, is restricted to the example of single dielectric layer deposited on the substrate with complex index of refraction. Three methods for averaging the possible measurable ellipsometric data are compared and analysed. and V článku je analyzován vliv zakřiveného povrchu na přesnost vyhodnocení elipsometrických parametrů získaných změřením odraženého sbíhavého (rozbíhavého nebo kolimovaného) svazku dopadajícího na sférický povrch. Numerický model je omezen na příklad jedné tenké dielektrické vrstvy nanesené na podložce s komplexním indexem lomu, fyzikálně vycházející z geometrického modelu šíření dílčích paprsků známé polarizace, zatímco pro šíření elektromagnetického pole v tenké vrstvě je využito metody vlnové optiky. Jsou uváženy tři způsoby průměrování lokálních veličin a porovnány odchylky od správných hodnot indexu lomu a tloušťky dielektrické vrstvy.