Účinná detekce elektronů ve všech typech elektronových mikroskopů je základním předpokladem pro získávání kvalitní informace o povaze zkoumaného vzorku a dosažení vyššího rozlišení detailů na povrchu vzorku. Tento přehledový článek shrnuje výsledky, které byly dosaženy v oblasti detekce signálních elektronů, zejména sekundárních a zpětně odražených elektronů, v rastrovacích elektronových mikroskopech. Podává charakteristiku obrazu tvořeného sekundárními a zpětně odraženými elektrony a soustřeďuje se především na scintilačně-fotonásobičové systémy. Uvádí přehled detekčních metod používaných v mikroskopech střední a vyšší třídy a v mikroskopech s nízkou energií primárního elektronového svazku při jejich dopadu na vzorek., Rudolf Autrata, Bohumila Lencová, Vilém Neděla., and Obsahuje seznam literatury