autoři katalogu : Jana Koudelová, David Stejskal, Jan Tippner, Michal Kloiber, Jiří Bláha, Petr Růžička, Tomáš Kolář, Michal Rybníček, Jaroslav Buzek, Tomáš Dostál, Jaromír Milch, Jan Baar, Dominik Hess, Jan Zlámal, Hanuš Vavrčík, Radek Bryol ; editor: Jana Koudelová ; fotografie: Jaroslav Hrivnák, Michal Kloiber, Jan Kolář, Tomáš Kolář, David Stejskal, Willy Tegel., Seznam zkratek, Obsahuje bibliografii, and Anglické resumé
Rostlina s příběhem je netradiční soutěž, kde ke každému snímku patří také příběh o zobrazené rostlině. Zde přinášíme 9 oceněných snímků vybraných odbornou porotou a veřejností. and Plant and its Story is a non-traditional contest in which a story about a documented plant is an inseparable part of each photo. Twelve winning photos are presented.
The scanning electron microscopy has become an integral part of manufacturing and controlling processes in recent years. Its function is to causes of defects detect, to check of the correctness of technological processes or to study of material’s phase transformations for correct setting of process parameters. Scanning electron microscopes are equipped with a range of detectors that provide information about the studied material. The usage of secondary electron detector (SE), backscattered electron detector (BSE and AsB), Electron backscatter diffraction detector (EBSD) and energy-dispersive X-ray detector (EDX) have been described in this paper. and Rastrovací elektronová mikroskopie se v posledních letech stává nedílnou součástí výrobních a kontrolních procesů. Její funkcí je především odhalování příčin vzniku vad, kontrola správnosti provedených technologických postupů či studium fázových přeměn materiálu sloužící pro správné nastavení konkrétních procesních parametrů. Elektronové mikroskopy jsou vybaveny škálou detektorů, které poskytují komplexní informaci o studovaném materiálu. V rámci tohoto článku bylo popsáno využití detektorů sekundárních elektronů (SE), zpětně odražených elektronů (BSE a AsB), detektoru difrakce zpětně odražených elektronů (EBSD) a detektoru pro energiově-disperzní mikroanalýzu (EDX) při řešení výrobní problematiky.