A method to determine the optical parameters of thin films deposited on the thick transparent substrate is proposed. The method is based on the calculation of probability amplitude by the Feynman sum over trajectories. We can reproduce quickly known relation used in optics of thin films by this method and it could be generalized to other cases. We have discussed theoretically an accuracy of the method developed by Manifacier et al. [2]. and Je navržena metoda určení optických parametrů tenkých vrstev nanesených na tlustém transparentním substrátu. Metoda je založena na výpočtu amplitudy pravděpodobnosti pomocí Feynmanovy sumace přes trajektorie. Stručně reprodukujeme známé relace z optiky tenkých vrstev touto metodou, které lze zobecnit na jiné případy. Teoreticky diskutujeme o přesnosti metody navržené Manifacierem et al. [2].