Pb(Zr,Ti)O3 (PZT) is a ferroelectric material interesting for its high dielectric constant and piezoelectric response. PZT thin films can be prepared by various methods, e.g. pulsed laser deposition, chemical vapor deposition, sol-gel and, most frequently, sputtering. Though the magnetron sputtering is used more frequently, PZT thin films can be prepared also by ion-beam sputtering (IBS). In this paper we study the deposition process of PZT thin films in our IBS system with a possibility of ion-beam assisted deposition (IBAD), which has the advantage that more energy can be added to the growing layer. We focus here mainly on the influence of the oxygen flux during the deposition on the quality of the resulting layers. We compare the samples grown on the silicon substrate with and without an intermediate Ti seeding layer. and Olovo-zirkonát-titanát Pb(Zr,Ti)O3 (PZT) je ferroelektrický materiál zajímavý pro svou vysokou dielektrickou konstantu a silnou piezoelektrickou odezvu. Tenké PZT vrstvy mohou být připraveny různými metodami, např. pulzní laserovou depozicí, chemickým nanášením par, metodou sol-gel a nejčastěji naprašováním. I když se magnetronové naprašování používá častěji, mohou být tenké PZT vrstvy připraveny i naprašováním iontovým svazkem (IBS). V tomto článku studujeme depoziční proces tenkých PZT vrstev v našem systému depozice iontovým svazkem s možností asistenčního iontového svazku (IBAD). Soustředíme se zejména na ovlivnění kvality výsledných vrstev množstvím připouštěného kyslíku během depozice. Porovnáváme vzorky pěstované na křemíkovém substrátu s Ti mezivrstvou nebo bez ní.
Images in the visible part of spectrum can be nowadays easily acquired rapidly with a high resolution. However, imaging in the less-common spectral ranges (such as deep ultraviolet, infrared or terahertz region) still pose a significant problem due to high prices and complexity of the required array detectors and imaging optics. A possible solution to the issue is utilization of the so-called compressed sensing, namely single-pixel camera. It is a new approach to image acquisition based on computational scene reconstruction from a limited number of intensity measurements from a simple photodetector. In this article we demonstrate usage of a single-pixel camera setup in the visible spectral region. We present the measurements, consequent computational reconstruction and discuss the optimum number of datapoints for a robust and efficient image acquisition. The obtained knowledge base can be transposed in a straightforward way into imaging apparatuses in the less common spectral ranges, which feature significant potential in a number of research areas (imaging, spectroscopy, optical sensing, etc.). and Zatímco snímání obrazu ve viditelné oblasti je dnes na velmi vysoké úrovni, snímání v méně používaných spektrálních oblastech (hluboká ultrafialová, infračervená, terahertzová) je často zatíženo vysokou cenou a komplexností obrazového snímače a zobrazovací optiky. Možným řešením těchto problémů je použití principů komprimovaného snímání, konkrétně tzv. jednopixelové kamery. Jde o nový přístup k měření obrazu pomocí počítačové rekonstrukce z omezeného množství měření intenzit jednoduchým fotodetektorem. V tomto článku demonstrujeme použití jednoduchého uspořádání na bázi jednopixelové kamery ve viditelné oblasti. Představujeme zde postupy, kterými byla jednotlivá měření prováděna, jakož i diskuzi ohledně nezbytného počtu vzorků pro efektivní a spolehlivou rekonstrukci obrazu. Získané poznatky lze přímočaře přenést do vytváření zobrazovacích aparatur pro jiné spektrální oblasti, což má velký potenciál v celé řadě oborů (zobrazovací technika, spektroskopie, optické senzory atd.)