Rentgenová metrologie mřížkových parametrů - Od M. Černohorského po dnešek

Title:

Rentgenová metrologie mřížkových parametrů - Od M. Černohorského po dnešek

Creator:

Holý, Václav

Identifier:

https://cdk.lib.cas.cz/client/handle/uuid:869665c8-7fcb-42a2-9d2e-652097bb470d
uuid:869665c8-7fcb-42a2-9d2e-652097bb470d
issn:0009-0700

Subject:

Černohorský, Martin, 1923-, 20. století, rentgenová difraktometrie, metrologie, monokrystaly, X-ray diffractometry, metrology, monocrystals, 6, and 53

Type:

model:article and TEXT

Format:

print, bez média, and svazek

Description:

Přesné stanovení mřížkových parametrů polykrystalických látek a monokrystalů je jednou ze základních úloh rtg. difrakce. Měření mřížkových parametrů polykrystalů je založeno na extrapolační metodě a na podílové metodě M. Černohorského, mřížkové parametry dokonalých monokrystalů lze měřit Bondovou metodou relativně k přepokládané vlnové délce rtg. záření, nebo kombinací rtg. a optické interferometrie. Článek shrnuje principy metod měření mřížkového parametru a zabývá se jejich aplikací pro přesné stanovení Avogadrovy konstanty., Václav Holý., and Obsahuje seznam literatury

Language:

Czech

Rights:

http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/
policy:public

Coverage:

76-80

Source:

Československý časopis pro fyziku | 2008 Volume:58 | Number:2

Harvested from:

CDK

Metadata only:

false