Mikroskopové metody pro diagnostiku materiálů a struktur v elektronice

Title:

Mikroskopové metody pro diagnostiku materiálů a struktur v elektronice
Microscopy method for diagnosis of materials and structures in electronics

Creator:

Řeboun, Jan, Hamáček, Aleš, and Džugan, Tomáš

Identifier:

https://cdk.lib.cas.cz/client/handle/uuid:3c898504-48fa-4e2e-9afa-aa66f68667e1
uuid:3c898504-48fa-4e2e-9afa-aa66f68667e1

Subject:

microscopy diagnostics, laser confocal microscope, LEXT, atomic force microscope, AFM, materialographic crossection, Mikroskopová diagnostika, laserový konfokální mikroskop, mikroskop atomárních sil, and materiálografický výbrus

Type:

model:article and TEXT

Format:

bez média and svazek

Description:

Applications of appropriate microscope techniques for electronic materials and interconnection structures diagnostics are shown in this paper. The paper deals with prospective semiconductive, conductive and insulative organic materials research and diagnostics of components, substrates and its interconnections. Diagnostic equipment described in this paper is available in the reference laboratory of microscopy at the Department of Technologies and Measurement, University of West Bohemia in Pilsen. and V článku jsou prezentovány aplikace vybraných mikroskopových technik vhodných pro diagnostiku materiálů a struktur v elektronice. Jedná se především o studium perspektivních polovodivých, vodivých a izolačních organických materiálů a o diagnostiku součástek, propojovacích struktur a plošných spojů. Popsaná diagnostická zařízení jsou dostupná v referenční mikroskopové laboratoři katedry technologií a měření Západočeské univerzity v Plzni.

Language:

Czech

Rights:

http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/
policy:public

Coverage:

170-174

Source:

Jemná mechanika a optika: věda - výzkum - technologie - realizace : technický oborový časopis = Fine mechanics and optics | 2011 Volume:56 | Number:6

Harvested from:

CDK

Metadata only:

false